- Detalhes
Ensaios de: tração, compressão, dobramento, cisalhamento e flexão; fadiga por esforço axial; impacto Charpy à temperatura ambiente. Dureza: Rockwell, Rockwell superficial e Brinell.
Equipamentos:
- Máquina de ensaio universal Instron - Dinâmica c/ garra hidráulica (150 kN) modelo 1332 (Fig. 1)
- Máquinas de ensaio Instron 1131 (10 kN), 4301 (5 kN), 3382 (50 kN) e 3885 (50 kN) com forno (até 1200 oC), marca Morh-Federraf (20t)
- Máquinas Charpy para metais e plásticos
- Conjunto de Durômetros: Wolpert HT 1 a; Wilson, 1JR; Wolpert HT 1 Super; Pantec RASN, digital (Fig. 2)
- Detalhes
Software CST Microwave Studio 2011, programa para simulações. eletromagnéticas amplamente utilizados por engenheiros e pesquisadores de todo o mundo. O CST possui vários pacotes para análise eletromagnética em bandas de alta frequência num cenário totalmente 3D, utilizando algoritmos precisos que simplificam a estrutura dos projetos através da geração de malhas, de acordo com a frequência que está sendo utilizada, tudo isso de forma automática. Quanto maior a frequência da onda incidente sobre o alvo que está sendo utilizado, maior será o número de malhas, em consequência, de cálculos, que o software processará. O software possui dois métodos de cálculo (solver) diferentes: o Solver-A e o Solver-I.
Hardware e Software:
Servidor Sunfire X4600 M2, com seis processadores AMD Dual Core de 2,8 GHz, memória RAM total de 192 GB, dois Hard Disk Drive (HD) com capacidade de armazenamento de 300 GB, e Sistema Operacional Windows Server 64 Bits Enterprise.
- Detalhes
Polimento e embutimento de amostras de materiais e exames por microscopia óptica e ensaios de microdureza Vicker.
Equipamentos:
- Microscópio óptico Leica DMRXP
- Microscópio óptico Olympus; 850872
- Microscópio ótico Zeiss/Jena Neophot 32
- Microscópio óptico Zeiss Axio Imager 2 (Fig. 1)
- Estereoscópio Zeiss STEMI-SV 11
- Estereoscópio Zeiss Discovery V8 (Fig. 2)
- Microdurômetro Futuretech, modelo FM - 7
- Detalhes
Análise química por fluorescência de raios X e análise de materiais com estrutura cristalina por difração de raios X.
Equipamentos:
- Difratômetro de Raios X, marca Philips, modelo X'Pert-PW 1830/40;
- Difratômetro de Raios X, marca Panalytical, modelo X'Pert PRO-MPD;
- Espectrômetro de Fluorescência de Raios X, marca Panalytical, modelo Axios Advanced;
- Detalhes
As suas principais atividades estão relacionadas às medidas de propriedades intrínsecas dos materiais: permissividade elétrica e permeabilidade magnética; Medidas de refletividade.
Equipamentos:
- Analisador de redes vetorial
- Analisador de redes escalar (Grupo fig. 2)
- Câmera Anecóica (Grupo fig. 3)
- Arco NRL (Grupo fig.4)
- Detalhes
Análise química via úmida e instrumental de ligas ferrosas e não-ferrosas e enquadramento de ligas.
Equipamentos:
- Espectrômetro de Absorção Atômica, marca Varian, modelo Spectra AA 20 Plus (Fig. 1)
- Espectrofotômetro UV/Visível, marca Micronal, modelo 380
- Analisador de Carbono e Enxofre, marca Leco, modelo CS200 (Fig. 2)
- Analisador de Nitrogênio e Oxigênio, marca Leco, modelo TC500 (Fig. 3)
- Eletrolizador, marca Eberbach
- Detalhes
Comportamento térmico (fusão, cristalização, temperatura de transição vítrea, cura, degradação, oxidação indutiva, entre outros) de materiais. Comportamento mecânico (viscosidade, ponto de gel, cura) de materiais fluidos e sólidos, em função de temperatura e deformação e frequência. Comportamento eletroquímico de eletrodos condutores e semicondutores. Estudo de espectros de impedância eletroquímica. Determinação quantitativa de concentração de componentes químicos em mistura reacional.
Equipamentos:
- DSC (Fig. Grupo 1)
- TGA (Fig. 2)
- Reômetro
- DMA (Fig. 3)
- Potenciostato/galvanostato (Fig. 4)
- Espectrofotômetro UV/Visível
- Viscosímetro
