Instituto de Aeronáutica e Espaço

Ao Laboratório de Montagem de Equipamentos Eletroeletrônicos (LMEE) compete realizar a montagem de circuitos, dispositivos e equipamentos eletroeletrônicos embarcados e de meios de solo. O laboratório dispõe da seguinte infraestrutura: estação de solda com temperatura controlada, estação de solda para retrabalho, soprador térmico, desencapador térmico, exaustor de fumaça, máquina de inspeção de componentes, forno de refusão, máquina de montagem Pick and Place.

Responsável: Tecnol. Luciana Pereira Simões                                

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Nome da Instituição: Instituto de Aeronáutica e Espaço / DCTA

Endereço: Praça Marechal Eduardo Gomes, 50. - São José dos Campos – SP - CEP 12228-015 – Brasil 

Ao Laboratório de Testes de Alta Frequência (LTAF) compete realizar testes funcionais, em apoio ao desenvolvimento de equipamentos eletroeletrônicos de alta frequência a serem embarcados em veículos aeroespaciais ou utilizados nos meios de solo. O laboratório dispõe da seguinte infraestrutura: geradores de sinal, medidores de potência, osciloscópios digitais, receptores, analisadores de espectro, analisadores de rede, sistema portátil para teste de respondedores radar.

Responsável: Tecnol. Massanori Sato                                          

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Nome da Instituição: Instituto de Aeronáutica e Espaço / DCTA

Endereço: Praça Marechal Eduardo Gomes, 50 - São José dos Campos – SP - CEP 12228-015 – Brasil.

O Laboratório de Caracterização Físico-Química (LCFQ) realiza ensaios físico-químicos, nas áreas térmica, eletroquímica e espectrofotométrica, predominantemente voltados à pesquisa científica.

No que tange à área térmica, é possível estudar o comportamento térmico de uma série de fenômenos (fusão, cristalização, temperatura de transição vítrea, cura, degradação, oxidação indutiva, entre outros) para diversas substâncias; adicionalmente os fenômenos térmicos, podem ser acompanhados de variações no comportamento mecânico (viscosidade, ponto de gel, cura) de materiais fluidos e sólidos, em função de temperatura, deformação e frequência.

Na área eletroquímica, são realizados processos de eletrossíntese, ensaios de comportamento eletroquímico de eletrodos condutores e semicondutores. Além disso, atua na área de estudo de espectros de impedância eletroquímica e determinação quantitativa de concentração de componentes químicos em mistura reacional.

Com relação ao Sistema de Gestão da Qualidade, o LCFQ segue a norma NBR ISO/IEC 17025, segundo a qual é auditado anualmente pelo Sistema de Metrologia Aeroespacial (SISMETRA) da Força Aérea Brasileira.

Grafeno é obtido no LCFQ pelos métodos químico, térmico e eletroquímico.

Infraestrutura 

· Sistema de Reatores Pré-piloto para síntese de polímeros condutores, de 5 e 10 L, com refrigeração por banho de recirculação de etilenoglicol de 40 L.

· Estufa a vácuo

· Mesa agitadora para 25 erlenmeyers, com velocidade de rotação de até 250 rpm

· Analisador Térmico DSC Perkin Elmer, Pyris I com sistema de resfriamento (intracooler) de até – 50 ºC e aquecimento até 600 ºC

· Analisador Térmico TGA Perkin Elmer, 7 HT com atmosfera de ar sintético e nitrogênio e aquecimento até 1000 ºC

· Analisador Térmico Dinâmico-Mecânico DMTA Marca TA Instruments modelo 2980, Faixa de temperatura -120 ºC a 600 ºC, taxa de temperatura máxima 10 ºC/min Frequência 0,01 a 200 Hz.

· Reômetro Rheometrics, SR5, possibilitando trabalho de 30 a 350°C, frequência 0,00001

a 500 rad.s^-1, tensão cisalhamento 0,320 a 1,6x10⁴ Pa, e taxa aquecimento 1 a 20 °C/min.

· Potenciostato Autolab PGSTAT 302 equipado com gaiola de Faraday para proteção de interferências eletromagnéticas.

· Espectrofotômetro UV-Vis Perkin Elmer, Lambda 35, atendendo os comprimentos de onda de 200 a 1100 nm.

· Analisador Térmico DTA-TG, modelo Setsys 1600, da marca SETARAM, com atmosfera de ar sintético e argônio e aquecimento até 1570ºC

· Dilatômetro Netzsch modelo Dil 402 PC, faixa de temperatura ambiente até 1600ºC, espessura da amostra até 6mm e comprimento até 25mm, pressão no porta amostra 25 cN.

Competências

· Linha de pesquisa em materiais compósitos carbono-poliméricos condutores eletroativos

· Síntese de polímeros condutores por rotas química e eletroquímica

· Estudo de superfície de crescimento de filmes poliméricos condutores

· Obtenção e caracterização de polímeros condutores, grafeno e carbono vítreo reticulado

· Ensaios de espectroscopia de impedância eletroquímica, polarografia, técnicas crono e impedância dielétrica

· Análise térmica de polímeros e metais: fusão, cristalização, temperatura de transição vítrea, cura, degradação e oxidação indutiva

· Análise térmica dinâmico-mecânica (ensaios de tração, compressão e flexão) de materiais sólidos com variação de temperatura de – 100 ºC a 300 ºC

· Análise de propriedades viscoelásticas de materiais fluidos na faixa de temperatura de
25 ºC a 350 ºC em atmosfera ambiente ou inerte

· Ensaio de determinação de estruturas sensíveis à absorção molecular nas faixas do ultravioleta, visível e infravermelho próximo, além de sua quantificação

· Ensaios de viscosimetria capilar Übbelohdde e viscosimetria Brookfield

Informações para Contato

Responsável pelo laboratório: Dr. Emerson Sarmento Gonçalves

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Nome da Instituição: Instituto de Aeronáutica e Espaço / DCTA

Endereço: Praça Marechal Eduardo Gomes, 50  - São José dos Campos – SP - CEP 12228-904  Brasil 

Responsável: Tecnol. Jairo Ferreira dos Santos Filho                      

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Nome da Instituição: Instituto de Aeronáutica e Espaço / DCTA

Endereço: Praça Marechal Eduardo Gomes, 50. - São José dos Campos – SP - CEP 12228-015 – Brasil 

Descrição 

LFDR - LABORATÓRIO DE FLUORÊSCENCIA E DIFRAÇÃO DE RAIOS X

O Laboratório de Fluorescência e Difração de Raios X (LFDR) atua na área de caracterização física e química de materiais, dando apoio a projetos de pesquisa e desenvolvimento nas áreas de Aeronáutica, Espaço e Defesa.

Seguindo a Diretriz de Comando estabelecida para os laboratórios da Aeronáutica, o LDFR é auditado anualmente pelo Sistema de Metrologia Aeroespacial (SISMETRA) segundo a norma ABNT NBR ISO/IEC 17025:2005.

FLUORESCÊNCIA DE RAIOS X

Análise química elementar semi-quantitativa do Na ao U por espectrometria de fluorescência de raios X de materiais sólidos ou pós, como ligas metálicas, amostras mineralógicas, cerâmicas ou poliméricas. Análise química elementar quantitativa mediante a disponibilidade de padrões.

DIFRAÇÃO DE RAIOS X

Identificação de fases cristalinas pelo método do pó por comparação com padrões do banco de dados do ICDD (The International Centre for Diffraction Data), baseado na composição química da amostra, nas intensidades relativas e posições dos picos difratados. Por essa técnica, informações quantitativas cristalográficas de amostras podem ser calculadas com a aplicação do Método de Rietveld com padrões da Crystallography Open Database (COD).

Responsável pelo setor: Maria Aparecida Miranda de Souza

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